Destacados Profesionales del INM, son reconocidos como Jóvenes Metrólogos por su pasión e innovación en la ciencia de las mediciones

Jorge Luis Galvis Arroyave y Sergio Luis Dávila González, destacados profesionales de la Subdirección de Metrología Física y la Subdirección de Metrología Química y Biología del Instituto Nacional de Metrología – INM, han sido galardonados con el premio «Jóvenes Metrólogos» en la región de ANDIMET. Este reconocimiento honra los logros personales de los profesionales en mención y busca estimular su pasión por la investigación y el pensamiento científico en el ámbito de las mediciones.

El equipo liderado por el Profesional Galvis presentó el trabajo «Efecto del número de franjas en la medición de bloques patrón utilizando patrones de interferencia» y tuvo como coautores a William Gómez de la Universidad de América y Mayerlin Núñez de la Universidad de los Andes. Por su parte, el Profesional Dávila recibió el reconocimiento por su trabajo «Taller de transferencia técnica para el fortalecimiento de los laboratorios que realizan detección de SARS-COV-2», en donde contó como coautores a Claudia Patricia Tere, John Emerson Leguizamón, Katherin Holguín, Luis Felipe Santos y Gustavo Adolfo Gómez.

Estos profesionales no solo han sido reconocidos con el premio en mención, sino que también tendrán la oportunidad de exhibir sus investigaciones en el Simposio Internacional «Entendiendo el cambio climático a través de la metrología», que se llevará a cabo los días 8 al 12 de julio en Orlando, Florida. Este simposio representa una valiosa ocasión para compartir sus investigaciones y contribuir al avance científico en el ámbito de la metrología.